Controllare e programmare il banco di misura direttamente dal PC (registrazione video webinar 53 minuti)
Il video del nostro webinar (53 minuti)
Termografia lock-in per analisi dei guasti con Source Measure Unit Keithley
L’analisi dei guasti della microelettronica è uno dei principali metodi analitici applicati alla diagnosi dei problemi che si verificano con i dispositivi, sia nella fase di fabbricazione che nell’uso della relativa applicazione.
Misura del Coefficiente di Hall utilizzando il 4200A-SCS
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
Misura di Van der Pauw utilizzando il 4200A-SCS
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
Speciale System Integrator
Sconto del 15% riservato ai system integrator
Speciale laboratorio High Level R&D
Selezione di prodotti che non possono mancare in un laboratorio di Ricerca e Sviluppo di alta tecnologia e soluzioni avanzate.
