La libreria contiene due test di resistività: vdp-surface-resistivity e vdp-volume-resistivity. Il test vdp-surface-resistivity misura e calcola la resistività in unità di Ω/square.
Descrizione dei passi nell’esecuzione del test del coefficiente di Hall
Per il test vdp-volume-resistivity, l’utente deve inserire lo spessore del campione e la resistività è calcolata in unità di Ω-cm. Per entrambi i test, viene forzata la corrente e vengono effettuate otto misure di tensione.
L’utente digita i parametri di input in base ai requisiti del campione. I parametri di input per i test vdp sono elencati nella tabella 1 a lato.
Una volta inseriti i parametri di input ed eseguito il test, le misure vengono effettuate intorno al campione con la funzione di ciascuna SMU che cambia per ogni misura. Ogni SMU verrà configurata come una sorgente corrente emettendo la corrente di prova specificata, un voltmetro o un comune. Nello specifico, per ogni test una SMU sarà un generatore di corrente, una SMU sarà il punto comune e due SMU misureranno la tensione dopo un tempo di ritardo specificato dall’utente.
La differenza di tensione viene calcolata in base alle due letture delle due SMU. Queste otto misure e le relative configurazioni SMU sono visualizzate nella figura a lato.
Calcolare la resistività
Dal test di corrente e le otto misure di differenza di tensione, la resistività è calcolata in questo modo:
Terminato il test, le tensioni e la resistività sono mostrate nella schermata Analyze view. Questa la lista dei parametri disponibili:
- V34p, V34n, V41p, V41n, V12p, V12n, V23p, V23n, ρA, ρB, ρ or σ
- I21p, V34p, I21n, V34n, I32p, V41p, I32n, V41n, I43p, V12p, I43n, V12n, I14p, V23p, I14n, V23n, ρA, ρB, ρ or σ
Conclusione
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS. Con un magnete, è anche possibile determinare la mobilità di Hall.
Per testare materiali a bassa resistenza, come i conduttori, si deve utilizzare un sistema basato sulla Keithley 3765 Hall Effect Card includendo anche il nanovoltmetro 2182A.
